华硕推BIOS测试版修复ROG笔记本卡顿问题

华硕已启动针对ROG系列笔记本电脑系统卡顿和性能下降问题的BIOS测试版更新。该公司于9月27日确认,已查明问题根源,并计划从10月初起陆续发布正式版固件修复。

首批测试版更新面向特定配置的2023款Strix Scar 15(型号G533ZW)和2023款Zephyrus M16(型号GU604VI)机型推出。

此次更新回应了用户持续数周反馈的全系统性卡顿、音频爆音及输入延迟等问题。华硕工程团队已定位导致卡顿和性能中断的具体问题,并开始为受影响产品发布测试版BIOS,相关文件将在未来一周内上线官网支持页面。公司强调,安装测试版BIOS不影响产品保修资格。

问题最早于9月初浮现,多位用户报告在空闲或轻负载状态下,系统每隔30至60秒出现可复现的全局性卡顿。

技术分析显示,问题源于BIOS层级的ACPI中断风暴及独立显卡电源循环管理不当。通过Windows性能追踪工具及LatencyMon日志分析发现,与ACPI.sys相关的DPC延迟显著升高,且某一CPU核心持续处于高负载状态。该缺陷影响自2021年至2024年间多个世代的ROG笔记本,包括Scar系列和Zephyrus系列。

尽管华硕未披露技术细节,但已确认在测试版BIOS中部署修复方案,并预计从10月初起逐步向其他受影响型号推送正式版固件更新。

华硕提醒用户,安装测试版BIOS前应备份系统设置并查阅更新日志。虽然安装测试固件不影响保修,但测试版本仍可能存在稳定性风险。

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