天眼查App显示，2025-12-12，「无功老化测试设备」正式进入专利权的授权阶段。申请人为杭州中安电子股份有限公司，该项外观专利涉及新能源车IGBT模块老化测试设备的设计与应用。据专利信息显示，该设备通过独特的结构造型设计，显著优化了测试过程中的空间布局与操作便捷性。发明人为卜予城;卜建明;贺庭玉;廖剑;柴俊标;余亮;叶乐。本外观设计产品的用途用于新能源车IGBT模块老化测试，设计要点在于形状，最能表明设计要点的图片或照片为立体图。

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