天眼查App显示，东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司近日公布了一项关于晶圆缺陷检测的发明专利，旨在提升晶圆生产过程中的质量检测效率。

关键点：
1. 专利名称：晶圆的缺陷确定方法、装置、设备、介质及产品。
2. 申请时间：2024年11月8日。
3. 公布时间：2025年2月25日。
4. 专利类型：发明专利，分类号为G06T7/00。
5. 发明人：黄旭、刘成成、石鑫、韩春营。
6. 代理机构：北京东方亿思知识产权代理有限责任公司。

该专利技术将有助于优化晶圆制造流程，提升检测精度与效率。

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