天眼查App显示，2025年4月29日，「一种PLC系统软硬件自适应测试方法及系统」正式进入专利权的授权阶段。申请人为中电智能科技有限公司，该项可编程控制技术专利涉及PLC系统的软硬件自适应测试领域。据专利信息显示，该方法能够显著优化测试效率、灵活性和适应性，极大提高测试系统的便携性与性能。发明人为赵德政、郭肖旺、赵奇伟、贾德胜、韩雨薇、霍书侠、霍玉鲜。本申请公开了一种PLC系统软硬件自适应测试方法及系统，具体包括解析被测PLC系统配置和测试序列描述文件，生成被测PLC系统的配置参数序列；确定每个测试项的预计结果数据，生成测试数据集；遍历动态测试单元集合中的每个最小可执行动态测试单元，根据测试数据集生成测试程序，并在测试程序中设置被测点、记录变量集；确定最小可执行动态测试单元的执行顺序，生成调度策略；加载所有最小可执行动态测试单元，完成动态测试状态机初始化；根据执行顺序，依次逐个执行最小可执行动态测试单元。

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