武汉精立电子技术有限公司等一种高速信号测试电路及测试方法专利公布(信号测试专利快讯)

天眼查App显示,2025年4月29日,「一种高速信号测试电路及测试方法」正式进入专利公布阶段。申请人为武汉精立电子技术有限公司、武汉精测电子集团股份有限公司,该项信号测试领域专利涉及高速信号的发送与接收测试优化。据专利信息显示,该方案显著优化了通过点触或焊接引至示波器测试时信号不稳定或切换操作困难的问题。发明人为李威、张春梅。「本申请测试电路中包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和连接器,所述第一电阻的第一端连接高速信号的发送端,所述第三电阻的第一端连接高速信号的接收端,所述第二电阻的第一端和连接器的第一端相连,所述连接器的第二端接地,所述第一电阻、第二电阻和第三电阻的第二端相连;所述连接器为凹形结构,和示波器探头转接器的凸型结构互补匹配,连接器和探头转接器连接后将高速信号引入示波器进行测试。」

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