天眼查App显示，2025年5月9日，「一种X射线散射量测设备、监控方法及介质」正式进入专利公布阶段。申请人为深圳中科飞测科技股份有限公司，该项测量专利涉及X射线散射量测技术领域。据专利信息显示，该技术实现了显著优化。发明人为骆荣辉、马砚忠、白园园和陈鲁。

专利摘要指出，一种X射线散射量测设备，包括X射线源、监测探测器、监测调节系统和真空准直系统，真空准直系统包括第一狭缝；X射线源发射的X射线照射第一狭缝时，X射线中被第一狭缝阻挡的部分形成第一散射X射线；监测探测器用于探测第一散射X射线并输出强度信息；监测调节系统处理强度信息得到X射线的强度监测数据，并根据强度监测数据监控X射线源。由于第一散射X射线属于被真空准直系统的第一狭缝阻挡而无法参与量测的无用X射线，利用量测光路中无用的X射线作为监测对象，无需中断量测流程即可实时监测X射线源；同时，根据实时监测结果判断X射线源的状态，可自动识别引起异常量测结果的原因并采用应对措施，保证X射线源的强度稳定性。

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