天眼查App显示，2025年5月20日，「测试电路、测试方法以及芯片」正式进入专利的公布阶段。申请人为中芯国际集成电路制造（北京）有限公司、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司，该项集成电路测试专利涉及芯片静电放电保护技术的应用场景。据专利信息显示，该发明能够显著优化芯片静电放电模块的防护效果，提高测试结果的可靠性。发明人为郭俊男。

专利摘要指出，一种测试电路、测试方法以及芯片，测试电路包括：被保护模块，适于加载性能测试信号时，输出被保护模块的性能参数；静电放电模块，与被保护模块耦接且并联设置，适于在加载静电放电测试信号时导通，以对静电电流进行泄放。本发明的静电放电模块可以在加载静电放电测试信号时，起到减小静电电流对被保护模块造成损伤的作用，从而能够较好地模拟出静电放电模块的实际应用场景，有利于提高测试电路的可靠性，进而有利于提高测试结果的可靠性。

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