天眼查App显示，2025年6月13日，「一种芯片测试平台」正式进入专利权的授权阶段。申请人为武汉联特科技股份有限公司，该项芯片测试专利涉及芯片检测技术领域。据专利信息显示，该技术显著优化了芯片出光检测效率，并提升了接收光强以满足测试需求。发明人为李耀、李林科、吴天书、杨现文和张健。

本实用新型公开了一种芯片测试平台，包括检测区，至少设有功率耦合单元以及光谱耦合单元；功率耦合单元至少包括PD探头及位于其前侧的准直透镜；光谱耦合单元则至少包括光纤及双透镜。通过在功率耦合单元中增加准直透镜，芯片出光后可转换为平行光进入PD探头；同时在光谱耦合单元中增加双透镜，实现了芯片出光汇聚后分别引入PD探头和光纤中，有效增大了PD探头和光纤所接收的光强，以满足测试需求。

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