杭州广立微电子股份有限公司等「阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质」专利公布(信息存储专利快讯)

天眼查App显示,2025年6月13日,「阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质」正式进入专利公布阶段。申请人为杭州广立微电子股份有限公司,该项信息存储专利涉及存储单元的阈值电压监测技术。据专利信息显示,通过将阈值电压波动转化为数字信号输出,实现了对存储单元影响的精准评估,显著优化了存储单元的工作良率。发明人为王同营、于天祺。该专利摘要指出,本发明包括存储单元、开关模块和数字信号输出模块,能够在不破坏存储单元结构的情况下监测其阈值电压波动情况,从而提升存储单元的工作性能和可靠性。

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