天眼查App显示，2025年7月8日，聚光科技（杭州）股份有限公司申请的「基于双光谱融合的元素测量方法」正式进入专利的公布阶段。申请人为聚光科技（杭州）股份有限公司，该项测量测试领域专利涉及利用XRF与LIBS技术进行双光谱融合以提升元素测量精度的技术方案。据专利信息显示，该方法通过交叉修正两种光谱强度数据，使元素含量分析的测量精度得到显著优化。发明人为俞大海、肖卫、张宇歌、李晓林、周治全、马海波、贺水春、郑利楠、许梅、张阳萍。摘要中指出，本发明具有测量精度高等优点，适用于多类元素的联合检测，提升了光谱分析的可靠性与准确性。

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