天眼查App显示，2025年9月5日，「一种基于ATE的毫米波芯片幅相测量装置及方法」正式进入专利的公布阶段。申请人为上海华岭集成电路技术股份有限公司与上海张江芯享测半导体科技有限公司，该项电通信技术专利涉及半导体自动测试技术领域。据专利信息显示，该方法通过ATE测量仪器与通道板卡的协同工作，使用精确的时序控制实现了毫米波芯片挡位和端口的快速切换，采用统一采集并分段处理的方式，大大提高测量效率。发明人为刘龙超、周军、李小媛。本发明揭示的装置包括ATE计算机、ATE通道板卡、ATE测量仪器以及负载板结构，适用于高效率毫米波芯片测试场景。摘要显示，该方案显著优化了毫米波芯片测试效率与系统集成度。

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