天眼查App显示，2025年8月1日，「透明均匀性检测方法」专利正式进入专利的公布阶段。申请人为合肥埃科光电科技股份有限公司，该项测量测试专利涉及透明材料内部均匀性的检测技术。据专利信息显示，该方法通过线光谱共焦传感器测量待测物厚度，并基于介质折射率变化对测量结果进行补偿，确保检测准确性，技术效果提升达显著优化。发明人为黄长江、唐俊峰、杨晨飞、曹桂平、董宁。专利摘要指出，该方法包括采用已知厚度的透明标定物标定传感器位置，通过扫描获取光谱图并计算测量厚度与理论位置厚度之间的差值，以判断待测物是否均匀。该技术适用于对透明材料质量控制的高精度检测场景。

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